Installation de nouveau Spectromètre de Fluorescence X (XRF) (Epsilon 4)

Dans le cadre du développement de sa plateforme analytique, l'INRAP a le plaisir de vous annoncer l'installation de son nouveau Spectromètre de Fluorescence X(XRF) (Epsilon 4) et sa mise à la disposition de ses partenaires.

Le XRF Epsilon 4 est un outil d'analyse puissant qui assure des analyses quantitatives non destructive des éléments. Il permet de quantifier les compositions élémentaires de matériaux qu’ils soient concentrés ou à l’état de trace et d'obtenir des informations utiles à partir de différents types d'échantillons (solides, poudres compactées ou libres, liquides et filtres).

Différentes applications et domaines sont concernés par cette technologie analytique telles que la production de ciment, l'exploitation minière, l'enrichissement de minerais, l'environnement, le pétrole et les produits pétroliers, les polymères, les produits pharmaceutiques, les produits de santé, les produits cosmétiques et les denrées alimentaires.